检测综合页面：

北京航空航天大学可靠性与系统工程学院元器件质量工程研究中心建于1989年，按照GJB2725《检测实验室和校准实验室能力的通用要求》建立质量管理体系，各项工作均在体系文件控制之下有效运行，并通过了中国合格评定国家认可委员会的实验室认可。

地址：北京市海淀区北京航空航天大学为民楼

邮编：100191

业务垂询电话：010-82338772;82339794

传真：010-82339519

我们的资源

本检测中心工作场地分为两处，北航学院路本部与沙河分中心，共有检测场地4200平方米，建有标准测试间、标准老化间及屏蔽间。

本检测中心配置一流的硬件设施，以保证提供一流的质量服务，目前固定资产12000多万元，配备主要检测仪器设备近200余台（套）。本检测中心试验设备能满足国家标准、国家军用标准、MIL标准和IEC标准的检测要求。本检测中心现有工作人员30余人（其中博士7人，硕士12人，90%以上人员具有中高级职称）。所有人员均经过培训和考核，持证上岗，人员素质和人员能力得到有效保证。

 我们的荣耀

元器件中心集教学、科研、型号工程、技术服务四位一体，经过近20年的技术凝练，在元器件可靠性保证方面已形成了军用电子元器件选用控制、检测筛选、鉴定检验、可靠性试验、分析和评价等研究方向，在国内军用电子元器件可靠性技术领域具有重要的影响力。近10年，承担了大量原ZZ、ZC、HK、HT等多个重点型号的JY电子元器件可靠性试验、鉴定检验、检测筛选、破坏性物理分析（DPA）和失效分析（FA）等任务。

元器件中心获奖情况：

◆获省部级以上科技进步奖四项

获国防科工委科技进步二等奖两项

获国防科工委科技进步三等奖一项

获航空科技 进步二等奖一项

◆获军队科技进步奖二项

获军队科技进步一等奖一项

获军队科技进步三等奖一项

◆获专利情况

获授权的专利近三十项

按钮：综合能力

具备按照国标、国军标、国际标准、美军标、行业标准、企业标准，对半导体集成电路、混合电路、微电路模块、半导体分立器件、连接器、外壳、微波等等开展鉴定检验、可靠性试验、检测筛选、破坏性物理分析（DPA）和失效分析（FA）等能力。

按钮：分析试验（DPA和FA）

本检测中心自成立以来，累计完成了10万余批元器件的破坏性物理分析（DPA）和上千个失效案例分析（FA），先后为国家重点工程提供失效分析服务；承担型号元器件质量与可靠性管理文件制定，型号元器件优选目录的编制，元器件质量与可靠性技术培训等。

主要检测项目：内部气体成份分析、粒子碰撞噪声检测、X射线检查、超声检测、密封（粗细检漏）、激光检漏、内外部目检、制样镜检、键合强度、芯片粘附强度、电镜分析等等。

电性能测试

1、分立器件类：可对二极管、MOSFET、IGBT等器件动态/静态参数测试：

电压源输出电压：0～600V，0.01%+18mV；

电压源输出电流：0~8A，0.03%+20mA；

数据采集（电压测量）VM：隔离电压输入；16位ADC；100k/S采样速率；256×16RAM；

脉冲发生器：脉冲幅度：5Vpp~20Vpp（可编程）；脉冲边沿≤5nS（由上升或下降）；

时间测量：最高频率：400MHz；触发灵敏度：2mV/div；最小时间测量分辨率：200pS。

2、单片集成电路类：A/D、D/A、数字集成电路、运算放大器、电压比较器、采样保持器、电压跟随器、精密电压基准、时基电路、达林顿晶体管阵列等各类模拟器件等混合集成电路、晶体元件等测试：

电源DPS电压范围 ：-50V~50V

电源DPS电流范围： -5A~5A

PMU电压范围：-15V~15V

    PMU电流范围：-250mA~250mA

AS（音频电压源）：1-200KHZ   0-4Vrms

时间测量：200ns~40s（±10V）

分辨率：400uV

3、模块类测试：

输出电压Vo：（0~64）V

输出电流Io：（0~120）A

输出纹波电压Vsrip：（0~60）V

线性调整率Sv：（0~64）V

负载调整率Si：（0~64）V

交叉调整率Vc：（0~64）V

输入电流Ii：（0~25）A

效率ŋ：（0~1）

开关频率fe：（0~200）MHz

启动延迟tTR：（0~300）s

启动过冲VT：（0~300）V

绝缘电阻RI：（1×105~1×1011）Ω

4、阻容感等元件测试：

绝缘电阻测试范围：1×10³~1×10¹⁶Ω

小电流测试范围：60fA~100μA

电感、电容测试：频率范围：50Hz~100kHz；测试信号电平：0.1V，0.3V，1V；恒定可选内电阻：30Ω或100Ω；

5、光电类器件测试：温控范围≤200℃，≥3℃/min；电压：AC380V；最大功率：8.9KW

6、压力、声学、加速度、流量等特种元件（传感器）测试

7、花键轴、齿轮轴等的精密测量：最小分辨率：0.1s；最大示值误差：<1s；

                俯仰位置度数范围：0~90°；仪器示值稳定度：0.2”

寿命试验

开展高温/常温稳态寿命、分立器件高温反偏、间歇寿命及阻容老化等试验。配备大功率分立器件寿命试验台，模块高温老化系统，集成电路高温动态老化系统及高温综合试验系统等。

物理试验

物理尺寸；片式器件共面性分析；耐溶剂性；可焊性、耐焊接热试验；机械开封；累积氦密封试验；PIND；引线牢固性试验；引线涂覆附着试验；静电放电敏感度分类（ESD）、闩锁试验等各种试验。

极限环境试验

气候试验：温度循环(空气-空气)、热冲击(液体-液体)、低气压、盐雾/盐气、交变/稳态湿热、高温贮存、低温贮存、高压蒸煮、浸渍等。

机械试验：随机振动、扫频振动、低频振动、高频振动、振动疲劳、机械冲击、恒定加速度、离心加速度等。